Licht- und Elektronenmikroskop Hand in Hand
Jürgen Heindl
Zur Bestimmung der technischen Sauberkeit nach VDA 19.1 wird die partikuläre Kontamination von Oberflächen in Filtern aufgesammelt. Hilfreich ist eine Methode, mit der Licht- und Elektronenmikroskop so gekoppelt werden können, dass der Anwender einen umfänglichen Überblick über Art und Ursache der partikulären Kontamination erhält.