Auf der internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung Control, die vom 6. bis 9. Mai 2025 in Stuttgart stattfindet, stellt Helmut Fischer, Premiumanbieter in der Oberflächenprüfung, Messtechnik zur Schichtdickenmessung, Materialanalyse und Werkstoffprüfung vor.
Der Hersteller präsentiert unter anderem das XRF-Messgerät Fischerscope X-RAY XDV-µ LD aus der High-End-Röntgenfluoreszenz-Serie. Es wurde speziell für die präzise Schichtdickenmessung und Materialanalyse an feinen Strukturen mit herausfordernden Geometrien konzipiert. Neben zahlreichen Anwendungsmöglichkeiten in verschiedenen Industrien eignet es sich für die präzise Messung auf kleinsten Bauteilen und Strukturen wie Leiterplatten oder Steckkontakten.
Die taktilen Messgeräte der DMP-Serie wurden für hohe Flexibilität in der Schichtdickenmessung entwickelt. Zu den Ausstattungsmerkmalen der kompakten Handgeräte gehören vielseitige Funktionen, ein robustes und neuartiges Design, digitale Sonden und eine intuitive Software. Darüber hinaus stellt der Hersteller das Messsystem Fischerscope MMS Automation vor und präsentiert den Fischerscope Xan Liquid Analyzer, der eine vollautomatische und kontinuierliche Analyse der Metallkonzentration in bis zu vier galvanischen Bädern ermöglicht.
Am Stand von Fischer haben Interessierte die Möglichkeit, sämtliche Geräte, Sonden und die Software ausführlich zu testen. Experten der Bereiche Applikation, Vertrieb und Service stehen für eine Beratung zur Verfügung und informieren umfassend über das Angebot des Unternehmens.
Autor(en): spa
