Im akkreditierten Prüflabor der Würth Industrie Service GmbH & Co. KG bieten moderne Prüfgeräte, qualifizierte Mitarbeiter sowie ein lückenloses Qualitätsmanagement optimale Bedingungen für sichere Prüfergebnisse. Mithilfe des neuen Rasterelektronenmikroskops (REM) lassen sich nun gebrochene sowie stark beanspruchte Bauteile auch im Nanobereich abbilden. So können auch die kleinsten Auffälligkeiten innerhalb der Oberflächenbeschaffenheit und spezifische Eigenschaften der Bruchstruktur wie Rastlinien erkannt werden, wodurch sich detaillierte Aussagen zum Bruchhergang oder der Fehlerursache ableiten lassen. Beispielsweise lässt sich auf diese Weise feststellen, ob das Bauteil dynamisch beansprucht war, ob es sich um einen Anwendungs- oder Materialfehler handelt und welche Art von Bruch (Spröd- oder Verformungsbruch) vorliegt. Auch die chemische Zusammensetzung der Probe kann mithilfe eines speziellen Detektors (Energie Dispersive Röntgenspektroskopie, EDX) auf kleinstem Raum bestimmt werden. Für die Analyse befindet sich die Probe, je nach Material, in einem Hoch- oder Niedervakuum. Anschließend wird das Objekt mit einem fein gebündelten Elektronenstrahl bestrahlt, wodurch die sogenannten Sekundärelektronen entstehen. Diese werden erfasst, elektronisch verstärkt und anschließend bildlich dargestellt. Somit können Auflösungen im Nanobereich erzielt werden. Zudem verfügt das REM im Vergleich zu einem Lichtmikroskop über eine extrem hohe Tiefenschärfe, wodurch auch größere Teile unter den gegebenen Bedingungen optimal geprüft werden können.
Autor(en): Wi
